Data di Pubblicazione:
1996
Citazione:
XPS and AFM characterization of a vanadium oxide film on TiO2(100) surface / G., C., R., B., Amoddeo, A., L. S., C., E., C.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 99:(1996), pp. 15-19.
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
G., Chiarello; R., Barberi; Amoddeo, Antonino; L. S., Caputi; E., Colavita
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