Experimental characterization and numerical analysis of the 4H-SiC p-i-n diodes static and transient behaviour

Articolo

Data di Pubblicazione:

2008

Citazione:

Experimental characterization and numerical analysis of the 4H-SiC p-i-n diodes static and transient behaviour / Pezzimenti, F., DELLA CORTE, F.G., Nipoti, R.. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 39:(2008), pp. 1594-1599. [10.1016/j.mejo.2008.02.005]

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Elenco autori:

Pezzimenti, F.; DELLA CORTE, F. G.; Nipoti, R.

Autori di Ateneo:

PEZZIMENTI Fortunato

Link alla scheda completa:

https://iris.unirc.it/handle/20.500.12318/2421

Pubblicato in:

MICROELECTRONICS JOURNAL

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